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About Bowman Italia srl - Strumentazione industriale per il controllo qualità

Strumenti a raggi X per l'analisi di spessori galvanici e analisi composizionali, made in USA. Gli strumenti Bowman XRF utilizzano la tecnologia della fluorescenza a raggi X per determinare lo spessore e la composizione dei depositi. La misurazione viene eseguita bombardando un'area del campione con un flusso primario di raggi X. Questo causa l'emissione di raggi X (fluorescenza) sia dal rivestimento che dal substrato, che viene rilevato con un rivelatore a dispersione di energia ad alta precisione. La risoluzione energetica, l'efficienza di rilevamento e la robustezza sono tre fattori relativi ai rivelatori. La risoluzione energetica è la capacità di separare due fotoni con una piccola differenza di energia. L'efficienza di rilevamento si riferisce all'efficienza della documentazione radiografica. Tutti i sistemi Bowman XRF utilizzano l'avanzata tecnologia di rilevamento dello stato solido di un rilevatore di deriva al silicio.

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